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                  • Particle Metric掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測 電子顯微鏡
                    Particle Metric掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測 電子顯微鏡

                    結合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統,以快速、簡便的方式實現顆粒的可視化分析,代表著微觀顆粒分析技術的一大進步??焖?、易用和超清晰成像質量的飛納臺式掃描電鏡,加上顆粒統計分析測量系統的顆粒圖像分析功能,為用戶檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創造了一個強大工具。

                    更新時間:2024-01-12型號:Particle Metric瀏覽量:1344
                  • Phenom Particle Metric顆粒測試
                    Phenom Particle Metric顆粒測試

                    Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術的一大進步??焖?、易用和超清晰圖像質量的Phenom飛納掃描電鏡,加上Particle Metric顆粒系統的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。

                    更新時間:2023-09-28型號:瀏覽量:1964
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